顆粒和液滴系統的準確離線分析取決於從製程流中成功去除和製備具有代表性的樣品。此過程通常很複雜,因為大多數離線技術對顆粒濃度、尺寸和形狀的可測量範圍施加嚴格限制。
樣品製備可能是一個勞動密集且昂貴的多步驟過程,可能會引入影響最終粒徑分佈數據的誤差。必須仔細控制常見的製備方法,例如過濾、乾燥、分採樣、再分散和稀釋,以防止樣品發生變化。
由於顆粒環境變化而改變樣品形狀/尺寸
這些樣品製備步驟可能會顯著改變感興趣的顆粒或液滴。即使在採樣和樣品製備方法上非常小心和精確,所分析的實際顆粒也可能與最初存在於工藝容器中的顆粒有很大不同。例如,即時顯微鏡拍攝的甘露醇晶體影像(圖 A)與標準離線光學顯微鏡拍攝的影像(圖 B)顯著不同。離線顯微鏡分析的取樣和準備導致了嚴重的破損,並且在過程中觀察到的精緻樹枝狀結構未被發現。
假設球形
非球形顆粒的粒徑通常使用等效直徑來報告。例如,在右圖中,描繪了形狀不同但體積相等的粒子。如果根據體積報告粒徑,則球形樣品和針狀樣品相同。然而,篩分兩種樣品的行為和通量可能大不相同,因為它們的篩子直徑和形狀遠非相同。因此,應注意確定形狀如何影響粒徑分析結果,並在可能的情況下使用技術(例如 EasyViewer 成像) 確定顆粒形狀。
時間延遲的影響
由於大多數顆粒製程流的固體負載量遠高於傳統粒徑分析儀所能處理的任何固體負載,因此測量需要仔細且耗時的樣品製備。測量和分析也需要時間,從最短的幾分鐘(例如透過光散射方法)到更長的時間(例如透過篩分和離線顯微鏡)。
為了獲得連續的信息,必須經常手動提取樣本並即時分析。這種方法還可能帶來不可接受的風險水平,特別是對於使用有毒或爆炸性漿料和溶劑的高溫和高壓工藝。採樣和使用離線工具接收結果之間不可避免的時間延遲使其難以實現真正的即時測量,並且由於過程隨時間變化,因此不適合連續監測過程。 建議使用線上粒度分析儀 。