
새로운 실험적 통찰력
입자들을 현장에 있는 그대로, 이전에는 포착할 수 없었던 세부사항까지 고화질 이미지로 촬영할 수 있어 프로세스에 새로운 통찰력을 불어넣어줍니다.
강력한 분석 기능
iC Vision의 이미지 분석 기법을 이용하여 EasyViewer를 강력한 분석기로 변화시켜 입자의 크기와 모양을 분석하십시오. 입자를 더욱 빨리 고안할 수 있습니다.
규모 확장의 유연성
이전하는 동안 소규모에서 대규모로 결과를 비교하여 이후 단계의 공정 개발의 위험을 줄입니다.
Material No.: 14000220
Probe Wetted Material | 하스텔로이(Hastelloy) C22 |
Probe Window Material | Sapphire |
Probe Wetted Temperature Range | -80 to 100 °C (purged) 10 to 100 °C (standard) |
Probe Back End Temperature Range–: | 0 °C – 25 °C |
Probe Wetted Pressure Range | 0 bar (full vacuum) to 10 barg (Standard) up to 100 barg (custom) |
Certifications | CE/NRTL Approved, Class 1 Laser Device, Compliant with 21CFR1040.10 and 1040.11 and IEC 60825-1 |
For Use In | Non-Hazardous Lab or Plant |
소프트웨어 | iC Vision |
Imaging System | Front Lasers: Backscattered images Back Lasers: Transmission images with use of optional clamp-on reflector |
Illumination | Back Lasers: 4 Front Lasers: 4 |
Probe Window Seals | Teflon O-Ring |
Probe Diameter | 19mm |
Probe Wetted Length | 400mm |
Conduit Length | 3m [9.8ft] |
Field of View | 1100μm x 800μm (± 50 μm) |
Optical Resolution | > 980 nm |
Image Resolution | 2200 x 1700 pixels |
Weight (probe, interface unit and cables) | 1.45 kg [3.20 lb] |
Air Requirements | Always use clean, dry instrument quality air or Nitrogen Low flow purge (optional, use to avoid condensation), 1.4 barg [20 psig], 0.5 SLPM [0.02 SCFM] |
Power Requirements | Via USB 3.0 on control pc +5 VDC, 1.7 A (maximum) Via USB 3.0 powered extender 100-240 VAC (auto-switching), 50/60 Hz, 1.7 A |
450nm |