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계량 장비 성능이 전반적인 장비 효율성(OEE)에 영향을 미칠 수 있습니다. 새로운 백서에서는 계량 장비가 어떻게 OEE 요인에 영향을 미치고 최적화할 수 있는지에 대해 사용 가능성과 품질에 초점을 맞춰 설명합니다.
제조 작업에서는 최근 OEE를 전반적인 성능을 평가하는 주요 척도로 사용하는 경향이 많이 보이고 있습니다. OEE 공식의 각 세 가지 요인(장비 사용 가능성 x 생산율 x 생산 품질)은 계량 장비 성능의 영향을 받습니다.
장비 사용 가능성에 부정적 영향을 미치는 요인들은 다음과 같습니다.
- 장비 고장
- 재료 부족
- 안전 관련 중단
- 생산 전환 지연
- 작업자 문제, 피로, 혼동
- 정전과 같은 외부 요인
기존의 스트레인 게이지 로드셀의 성능에 피해를 주던 영향들은 다음과 같습니다.
- 극한의 온도
- 실외 장비에 대한 낙뢰 또는 낮은 전력 품질과 같은 외부적 영향으로 인한 극도의 전압 서지 또는 딥(Dip)
- 비직선성, 이력 현상, 크리프, 영점 변화와 같은 로드셀 성능 문제
- 케이블 또는 정션 박스에서 나타난 통신 문제
이러한 영향을 완화하기 위해서 여러 전략을 사용할 수 있습니다.
예측 가능한 유지보수
자동화된 자체 진단 기능 없이는 시스템이 완전히 고장나기 전에 성능이 안 좋은 시스템 또는 표준 이하인 시스템을 발견하기가 어렵습니다. 결과는 심각할 수 있으며, 중단 시간이 발생하거나 최악의 경우 시스템에 부정확한 계량을 제공해 다운스트림 품질 확인을 하지 않는 한 발견되지 않는 최종 제품의 품질 문제를 야기할 수 있습니다.
고급 계량 시스템에는 고장 예측 기능이 있어 로드셀 신호 저하나 계량 성능의 오류를 잡아냅니다. 고장 원인을 제거하고 스마트 진단을 제공함으로써 OEE 공식의 사용 가능성 요인이 최대화됩니다.
